固態(tài)硬盤RDT測(cè)試柜的RDT測(cè)試主要目標(biāo)是加速薄弱的NAND閃存塊的故障，以便僅將最堅(jiān)固的閃存保留在設(shè)備上，從而最大限度地提高可靠的性能和耐用性。 RDT幫助確保產(chǎn)品可以承受極端溫度和惡劣的工作條件。 以下是“環(huán)儀儀器”某客戶使用固態(tài)硬盤RDT測(cè)試柜正在進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)的實(shí)拍圖片。   此為客戶把SSD被裝入專門設(shè)計(jì)的......

市場(chǎng)上的SSD盤片在出廠前，一般都會(huì)進(jìn)行可靠性驗(yàn)證測(cè)試(Reliability Demonstration Testing，RDT)，主要測(cè)試盤片是否能正常工作，硬件是否存在虛焊，DRAM(動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取內(nèi)存)是否異常，篩選出NAND閃存(NAND FLASH)中的壞塊等操作；即RDT主要目的是篩選不合格的盤片，其中包括了焊接問題、顆粒問題、DRAM以及主控問......

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介： 高精度SSD RDT高溫測(cè)試柜為一款定制化設(shè)備，測(cè)試柜廣泛應(yīng)用于PCB電路板、電源電子、電腦產(chǎn)品、通訊、生物制藥、儀器儀表，航天材料、汽車部件、橡塑輪胎、太陽能逆變器等領(lǐng)域產(chǎn)品的模擬在高溫環(huán)境下的老化篩選試驗(yàn)。 二、技術(shù)參數(shù)： 三、基本配置： 測(cè)試柜配有平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)（BTC），以 PID 方式控制 SSR； 溫度控制......

GB/T 4085-2015 是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，全稱為《半硬質(zhì)聚氯乙烯塊狀地板》，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半硬質(zhì)聚氯乙烯塊狀地板的分類、要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存等。 該標(biāo)準(zhǔn)還規(guī)定了半硬質(zhì)聚氯乙烯塊狀地板的試驗(yàn)方法，包括尺寸測(cè)量、外觀質(zhì)量檢查、物理力學(xué)性能測(cè)試等方面的內(nèi)容。在檢驗(yàn)規(guī)則中，規(guī)定了半硬質(zhì)聚氯乙烯塊狀地板的檢驗(yàn)分類、檢驗(yàn)項(xiàng)目、組批規(guī)則等方面......

GB∕T32371.4-2015 是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的低溶劑型或無溶劑型膠粘劑涂敷后釋放特性的短期測(cè)量方法的又一部分，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)定揮發(fā)性二異氰酸酯的方法。 該標(biāo)準(zhǔn)的方法也是用于評(píng)估低溶劑型或無溶劑型膠粘劑在涂敷后釋放揮發(fā)性二異氰酸酯的程度。在測(cè)試過程中，將膠粘劑涂敷在合適的基材上，并在特定的條件下放置一段時(shí)間，然后收集和測(cè)定釋放出的揮發(fā)性二異氰酸酯。 ......

GB/T 32371.3-2015 是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的低溶劑型或無溶劑型膠粘劑涂敷后釋放特性的短期測(cè)量方法的另一部分，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)定揮發(fā)性醛類化合物的方法。 與GB/T 32371.2-2015類似，該標(biāo)準(zhǔn)的方法也是用于評(píng)估低溶劑型或無溶劑型膠粘劑在涂敷后釋放揮發(fā)性醛類化合物的程度。在測(cè)試過程中，將膠粘劑涂敷在合適的基材上，并在特定的條件下放置一段時(shí)間，然......

GB/T 32371.2-2015 是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的低溶劑型或無溶劑型膠粘劑涂敷后釋放特性的短期測(cè)量方法的一部分，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)定揮發(fā)性有機(jī)化合物的方法。 該標(biāo)準(zhǔn)中的方法通常采用氣相色譜儀或其他適當(dāng)?shù)膬x器來測(cè)定膠粘劑涂敷后釋放的揮發(fā)性有機(jī)化合物（VOC）。在測(cè)試過程中，將膠粘劑涂敷在合適的基材上，并在特定的條件下放置一段時(shí)間，然后收集和測(cè)定釋放出的揮發(fā)性有......

GB/T 32368-2015是關(guān)于膠粘帶耐高溫高濕老化的試驗(yàn)方法的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了膠粘帶在高溫高濕環(huán)境下的老化性能測(cè)試方法。 一、范圍： 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了膠粘帶耐高溫高濕老化的試驗(yàn)方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于膠粘帶耐高溫高濕老化性能的測(cè)定。   二、試驗(yàn)項(xiàng)目： 高溫高濕老化試驗(yàn)。 三、試驗(yàn)設(shè)備： 恒溫恒濕試驗(yàn)箱。 四、設(shè)備廠商： 環(huán)儀儀......

分離式硬盤RDT測(cè)試高溫老化柜用于固態(tài)硬盤的RDT測(cè)試，RDT測(cè)試流程包括DDR測(cè)試、NAND FLASH測(cè)試、TSB測(cè)試等。其中，篩塊則是在NAND FLASH測(cè)試過程中的一項(xiàng)重要操作。   下面，我們來看看硬盤RDT測(cè)試高溫老化柜做這些測(cè)試有什么意義。 1. DDR測(cè)試：確保數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性 DDR測(cè)試是RDT的一部分，驗(yàn)證硬盤的數(shù)據(jù)傳輸......

《GB/T 32788.3-2016 預(yù)浸料性能試驗(yàn)方法 第3部分：揮發(fā)物含量的測(cè)定》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，它屬于一系列用于測(cè)試預(yù)浸料性能的標(biāo)準(zhǔn)之一。揮發(fā)物含量是指預(yù)浸料中揮發(fā)性有機(jī)化合物（VOC）的含量。這些化合物可能是溶劑、增塑劑、稀釋劑或其他揮發(fā)性物質(zhì)，它們可能會(huì)對(duì)環(huán)境和人體健康造成負(fù)面影響。因此，測(cè)定預(yù)浸料中的揮發(fā)物含量非常重要。   一、......