整體式升溫測試室是針對高性能電子產(chǎn)品模擬高溫惡劣環(huán)境的試驗(yàn)設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備，測試室溫度范圍+40℃~+100℃，適合所有電子產(chǎn)品的老化測試。對于測試室的選型，大家可以參考下面為大家介紹的內(nèi)容。

整體式升溫測試室選型參數(shù)：

整體式升溫測試室選型要求：

1.加熱試驗(yàn)

將溫度傳感器置于高溫老化試驗(yàn)箱工作空間內(nèi)任意一點(diǎn)，全功率加熱，記錄工作室溫度首次由室溫升至最高工作溫度的時間，結(jié)果不應(yīng)超過120分鐘。

2.表面溫度測試

高溫老化試驗(yàn)箱工作溫度首次達(dá)到最高工作溫度并穩(wěn)定2小時后，用溫度計(jì)測試箱體表面溫度，對最高工作溫度不超過200℃的試驗(yàn)箱，表面溫度不應(yīng)大于室溫加35℃；最高工作溫度超過200℃，表面溫度應(yīng)按公式確定。

3.絕緣電阻測試

試驗(yàn)按GB998中6.2規(guī)定的方法進(jìn)行，其結(jié)果應(yīng)與電加熱器接線端子（含引出線）對控制系統(tǒng)開路時進(jìn)行1500V、交流50H、1min的絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)相一致，絕緣不應(yīng)被擊穿。

4. 介電強(qiáng)度測試

試驗(yàn)按GB998中6.3條的規(guī)定進(jìn)行，當(dāng)試驗(yàn)結(jié)果符合電加熱器接線端子（含引出線）與控制系統(tǒng)斷路要求時，外殼應(yīng)能承受1500V、交流50H，歷時1min的介電強(qiáng)度試驗(yàn)，絕緣不應(yīng)被擊穿。

5.噪音測試

按照ZBN61012規(guī)定的方法進(jìn)行測試，結(jié)果整機(jī)噪聲不高，為75dB(A)。