高溫老化試驗可以通過幾種不同的方式影響產(chǎn)品的研究。整體式升溫老化房試驗的溫度越高，完成加速老化研究所需的時間越短。高溫加速老化標準使用稱為“阿倫尼烏斯方程”的方程嗎，下面，我們來看看整體式升溫老化房的試驗要求。

試驗設(shè)備：環(huán)儀儀器 整體式升溫老化房

試驗標準：GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法》

試驗描述：

加速老化標準使用稱為“阿倫尼烏斯方程（k=Ae-Ea/RT）”的方程。該方程的輸出告訴我們樣品應(yīng)在室內(nèi)放置多長時間。如果室內(nèi)溫度為 55℃，并且我們實時測試 1 年，則加速老化研究將需要 40 天。如果我們將溫度升至 60℃，并實時測試 1 年，則加速老化研究將在 29 天后完成。

注意：這假設(shè) Q 10值為 2.0（最保守和默認的選擇，如 F1980 中所述）和實際存儲溫度為 23℃。

標準中的要求：

在《GB/T 2423.2-2008》標準中，試驗樣品分為非散熱和散熱樣品，兩者區(qū)別在于試驗過程中，散熱樣品多了一項通電老化試驗。即：非散熱和散熱樣品需要做溫度漸變高溫老化試驗，散熱樣品多做一項通電溫度漸變老化試驗。

老化試驗的選擇：

我們可以做的一件事是同時進行兩項加速老化研究。這將需要雙倍的樣本數(shù)量，但可能會加快研究中加速老化部分的速度。

我們會同時進行這兩項研究，并在 29 天后測試第一項研究的樣品。如果我們發(fā)現(xiàn)與溫度過高相關(guān)的缺陷，我們將繼續(xù)進行更長時間的研究。如果我們測試了它們并且沒有不切實際的缺陷，我們可以結(jié)束 40 天的研究并使用 29 天研究的數(shù)據(jù)。