本標(biāo)準(zhǔn)是GBT-5170-08-1996    《電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法)系列標(biāo)準(zhǔn)之一。
本標(biāo)準(zhǔn)是GB 5170.8-85的修訂本.技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化:
-明確本標(biāo)準(zhǔn)適用于環(huán)境試驗設(shè)備在使用期間的周期檢定.以區(qū)別于產(chǎn)品的型式試驗、出廠檢驗
等。
溫度測量點的數(shù)量及布放位置以設(shè)備工作室容積2m'為界,不人于2m'時為9點,人于2m'
時為15點。
一溫度偏差的測量時間由 24 h綿短為30 min.
本標(biāo)準(zhǔn)自實施之日起.代替GB 5170.8-85.
本標(biāo)準(zhǔn)由機械工業(yè)部提出.
本標(biāo)準(zhǔn)由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口.
本標(biāo)準(zhǔn)由機械工業(yè)部廣州電器科學(xué)研究所負責(zé)起草。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:謝建華、付文茹、陳學(xué)進、薛振夷、王則燕。

1范園
GBT-5170-08-1996   本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鹽霧試驗設(shè)備的檢定項月.檢定用儀器、測量點的位置與數(shù)量.檢定步驟和檢定數(shù)據(jù)
的處理與檢定結(jié)果。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于對GB/T 2423. 17《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 Ka:鹽霧試驗方法》和
GB 2423. 18(電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 Kb:交變鹽霧試驗方法(氯化鈉溶液)所用鹽霧
試驗設(shè)備的周期檢定。
本標(biāo)準(zhǔn)也適用于類似設(shè)備的周期檢定。
對交變鹽霧試驗所用濕熱試驗設(shè)備的周期檢定見GB/T 5170.3.
2引用標(biāo)準(zhǔn)
下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文,通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用面構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時.所示版本均
為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂,使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。
GB/T 2423.17-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 Ka :鹽霧試驗方法
GB 2423. 18- -85
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 Kb:交變鹽霧試驗方法(氯化鈉溶
液)
GB/T 5170.1-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則
3檢定項目
檢定項目包括:
一溫 度偏差:
一鹽霧沉降率。