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東莞市環(huán)儀儀器科技有限公司
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常見問題
2023-06-28 JESD22標準半導體元件恒溫恒濕實驗箱
JEDEC曾經(jīng)是電子工業(yè)聯(lián)盟,1999年,JEDEC獨立成為行業(yè)協(xié)會,拋棄了原來名稱中縮寫的含義,目前的名稱為JEDEC固態(tài)技術協(xié)會。固態(tài)技術協(xié)會發(fā)布的相關標準為JESD22測試標準。 JESD22標準半導體元件恒溫恒濕實驗箱,可用于JESD22-A100標準的循環(huán)溫度-濕度-偏差與表面凝結壽命測試、JESD22-A101標準的穩(wěn)態(tài)溫度-濕度偏差壽命測試。......
2023-06-28 半導體元件恒溫恒濕實驗箱的應用
半導體元件恒溫恒濕實驗箱是一種用于模擬半導體元件在恒定溫度和濕度條件下進行測試和評估的設備。其作用主要對半導體元器件進行濕熱存儲、高溫高濕試驗,這些試驗一般會使用到半導體元件恒溫恒濕實驗箱。 半導體元件恒溫恒濕實驗箱在實際應用中,會涉及到以下標準: 1. GB/T 4937.42-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第42部分:溫濕度貯存 ......
2023-06-28 半導體元件恒溫恒濕實驗箱
一、產(chǎn)品簡介: 半導體元件恒溫恒濕實驗箱是一種用于模擬半導體元件在恒定溫度和濕度條件下進行測試和評估的設備。它們提供精確的溫度和濕度控制,以滿足半導體元件在不同環(huán)境條件下的性能和可靠性要求。 二、產(chǎn)品用途: 根據(jù)相關標準,需要對半導體元器件進行濕熱存儲、高溫高濕試驗,這些試驗需要用到半導體元件恒溫恒濕實驗箱。 三、滿足標準: ......
《GB/T 4937.23-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第23部分:高溫工作壽命》是中國國家標準化委員會發(fā)布的標準,用于評估半導體器件在高溫工作條件下的壽命和可靠性。該標準主要描述了高溫工作壽命試驗的方法和要求。 一、范圍: GB/T 4937的本部分用來確定偏置條件和溫度對固態(tài)器件隨時間的影響。本部分模擬器件在加速試驗條件下工作,主要用于......
《GB/T 4937.11-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第11部分:快速溫度變化 雙液槽法》是中國國家標準化委員會發(fā)布的標準,用于半導體器件的機械和氣候試驗。該標準主要描述了使用雙液槽法進行快速溫度變化試驗的方法和要求。 一、范圍: GB/T 4937的本部分規(guī)定了快速溫度變化--雙液槽法的試驗方法。當器件鑒定既可以采用空氣-空氣溫度循環(huán)又......
JB/T 12064-2014是中國國家標準,題為"高海拔環(huán)境絕緣子覆冰(雪)人工模擬方法"(Artificial Simulation Method for Insulator Icing in High Altitude Environment)。該標準規(guī)定了在高海拔環(huán)境下對絕緣子進行人工模擬覆冰(雪)試驗的方法和要求。 一、范圍......
2023-06-27 《GB/T 4585-2004 交流系統(tǒng)用高壓絕緣子的人工污穢試驗》標準
GB/T 4585-2004是中國國家標準,題為"交流系統(tǒng)用高壓絕緣子的人工污穢試驗"(Artificial Polluted Test for High Voltage Insulators in AC Systems)。該標準規(guī)定了在交流系統(tǒng)中使用的高壓絕緣子進行人工污穢試驗的方法和要求。 一、范圍: 本標準適用于系統(tǒng)最高電壓1k......
2023-06-27 《DL/T 2389-2021 覆冰地區(qū)架空輸電線路絕緣子選用導則》標準
DL/T 859-2015是中國電力公司標準,題為"高壓交流系統(tǒng)用復合絕緣子人工污穢試驗"(Artificial Polluted Test for Composite Insulators in High Voltage AC Systems)。該標準規(guī)定了在高壓交流系統(tǒng)中使用的復合絕緣子進行人工污穢試驗的方法和要求。 一、范圍: ......
2023-06-27 IC晶片的溫濕度貯存試驗
根據(jù)《GB/T 4937.42-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第42部分:溫濕度貯存》標準的要求,IC晶片需要進行溫濕度貯存試驗。溫濕度貯存試驗又分為濕熱試驗和不飽和高壓蒸煮試驗。試驗過程中,用到哪些設備?下面我們來看看。 一、濕熱試驗: 1. 試驗設備:交變濕熱試驗箱 2. 試驗要求 a. 40℃、90%RH,持續(xù)8000h......
2023-06-27 IC晶片高低交變濕熱試驗箱的試驗條件
IC晶片高低交變濕熱試驗箱可以為集成電路(IC)晶片進行濕熱試驗的設備,通過試驗機評估IC晶片的性能和可靠性。在試驗過程中,高低溫交變濕熱試驗箱可以提供什么樣的環(huán)境? 以溫濕度存儲試驗為例,根據(jù)《GB/T 4937.42-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第42部分:溫濕度貯存》標準的要求,結合高低交變濕熱試驗箱,可以為IC晶片的濕熱試驗提供以下......
2023-06-27 IC晶片高低交變濕熱試驗箱
環(huán)儀儀器新一代IC晶片高低交變濕熱試驗箱 ,集人性化設計理念于一身,從客戶的實際需求出發(fā),在每一細節(jié)上盡力滿足客戶要求,為客戶提供高品質的恒溫恒濕系列產(chǎn)品。 產(chǎn)品簡介: IC晶片高低交變濕熱試驗箱是一種專門用于對集成電路(IC)晶片進行高低溫和濕熱環(huán)境測試的設備。它能夠模擬高溫、低溫和濕熱環(huán)境下的應力,評估IC晶片的性能和可靠性。 ......
2023-06-26 《DL/T 2389-2021 覆冰地區(qū)架空輸電線路絕緣子選用導則》標準
DL/T 2389-2021是中國電力公司標準,標題為"覆冰地區(qū)架空輸電線路絕緣子選用導則"(Guidelines for Insulator Selection of Overhead Transmission Lines in Iced Areas)。該標準旨在指導在覆冰地區(qū)設計和選擇適當?shù)慕^緣子,以確保架空輸電線路在冰雪環(huán)境下的可靠......
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