半導體元件恒溫恒濕實驗箱是一種用于模擬半導體元件在恒定溫度和濕度條件下進行測試和評估的設備。其作用主要對半導體元器件進行濕熱存儲、高溫高濕試驗，這些試驗一般會使用到半導體元件恒溫恒濕實驗箱。

半導體元件恒溫恒濕實驗箱在實際應用中，會涉及到以下標準：

1. GB/T 4937.42-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第42部分：溫濕度貯存

2. IEC 60749-42:2014

3. JEDEC JESD22-A100E：2020 循環(huán)溫度-濕度-偏差與表面凝結壽命測試

4. JEDEC JESD22-A101D.01：2021 穩(wěn)態(tài)溫度-濕度偏差壽命測試

5. EIAJ ED-4701 100：2001 半導體器件的環(huán)境和耐久性試驗方法

下面結合半導體元件恒溫恒濕實驗箱，來聊聊一些相關試驗。

1. 在《GB/T 4937.42-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第42部分：溫濕度貯存》標準中，需要把半導體器件放置在試驗箱中，做以下試驗：

a. 40℃、90%RH，持續(xù)8000h的存儲試驗。

b. 60℃、90%RH，持續(xù)4000h的存儲試驗。

c. 85℃、85%RH，持續(xù)1000h的存儲試驗。

2. 在《JESD22-A100D 穩(wěn)態(tài)溫度-濕度偏差壽命測試》標準中，需要進行以下試驗：

測試時間:1008（-24，+168）小時；

測試溫度：30~65℃，但僅在65℃駐留；

測試濕度：90%~98%RH；

溫度變化速率：8.75℃/h~17.5℃/h;

以上兩個標準中的試驗，在使用半導體元件恒溫恒濕實驗箱時，只需要把測試產(chǎn)品放置在實驗箱中，在控制器設置好溫度、濕度、測試時間，就可以自動進行試驗了。