新聞資訊
news
東莞市環(huán)儀儀器科技有限公司
電話：0769 83482055
傳真：0769 83482056
移動電話：15322932685/宋小姐
地址：廣東省東莞市東坑鎮(zhèn)龍坑興業(yè)路3號
常見問題
可編程高低溫 SSD BIT老化實驗箱測試要求
固態(tài)硬盤（SSD）在生產過程中，需要在高低溫環(huán)境下進行BIT老化測試，下面，我們根據(jù)實際要求，看看測試是怎么做的。
測試硬件：環(huán)儀儀器 可編程高低溫 SSD BIT老化實驗箱
測試軟件：BurnInTest、H2test
測試環(huán)境：高溫75℃／低溫-10℃
測試樣品：固態(tài)硬盤
.jpg)
測試流程設計：
測試流程分為兩個階段，高溫測試和低溫測試。具體步驟如下：
高溫測試（75℃）： 運行BurnInTest軟件進行高溫測試，持續(xù)12小時。
切換至低溫測試（-10℃）： 在測試箱溫度切換至-10℃，運行BurnInTest軟件進行低溫測試，同樣持續(xù)12小時。
測試周期：一個完整的測試周期包括高溫和低溫測試各一次，總時長為72小時，共循環(huán)三個周期。
測試后校驗：
測試結束后，使用H2test軟件進行校驗，檢查固態(tài)硬盤是否出現(xiàn)壞塊。這一步驟在常溫環(huán)境下進行，確保在不同溫度條件下測試后的硬盤狀態(tài)。
[上一篇: 可程式高低溫 SSD BIT老化試驗箱] [下一篇: 《GB/T 14831-2003 膠乳制品蒸汽老化試驗方法》標準]
最新文章顯示
環(huán)儀儀器廠家提供完整的售后服務，每一臺環(huán)儀設備都有機身編號，只需提供機身號就可獲得高效的覆蓋全國30多個省市的售后服務，環(huán)儀承諾環(huán)境測試艙2年質保，終身維修，服務網點及周邊地區(qū)確保2小時快速響應。
.jpg)
