固態(tài)硬盤的BIT測(cè)試需要用到BIT老化柜，固態(tài)硬盤如何在BIT老化柜里面做測(cè)試？下面是市面上主流固態(tài)硬盤廠商常用的試驗(yàn)方法，下面我們來(lái)看看。

固態(tài)硬盤BIT測(cè)試流程：

試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)儀儀器 固態(tài)PCIE通道BIT老化柜

試驗(yàn)產(chǎn)品：固態(tài)硬盤

主要流程：

1. BIT測(cè)試

首先，在BIT測(cè)試中，通過(guò)軟件設(shè)置每次寫入磁盤的15%，負(fù)荷最大1000，測(cè)試時(shí)間為72小時(shí)。BIT測(cè)試結(jié)果顯示“PASSED”，即通過(guò)了測(cè)試。這一步驟主要檢測(cè)固態(tài)硬盤在正常工作負(fù)荷下是否能夠正常運(yùn)行，并保持性能穩(wěn)定。

2. 高溫老化

接著，將通過(guò)BIT測(cè)試的固態(tài)硬盤樣品放入老化柜中，設(shè)置溫度為100℃，進(jìn)行高溫老化測(cè)試，靜置3小時(shí)。這一步驟旨在模擬硬盤在高溫環(huán)境下的工作狀態(tài)，檢測(cè)其在極端條件下的表現(xiàn)，確保硬盤在高溫環(huán)境中不會(huì)出現(xiàn)性能問(wèn)題。

3. 壞塊檢測(cè)

完成高溫老化后，使用HD Tune Pro進(jìn)行壞塊檢測(cè)。結(jié)果顯示全綠，說(shuō)明在持續(xù)寫入72小時(shí)及3小時(shí)高溫環(huán)境中并沒(méi)有導(dǎo)致固態(tài)硬盤產(chǎn)生壞塊。壞塊檢測(cè)是為了確保硬盤在老化測(cè)試過(guò)程中，存儲(chǔ)單元沒(méi)有受到破壞，仍然能夠正常讀寫數(shù)據(jù)。

4. 無(wú)故障使用時(shí)間計(jì)算

根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)，可以計(jì)算出固態(tài)硬盤大概的無(wú)故障使用時(shí)間。這一步驟是為了預(yù)估硬盤在正常使用情況下的壽命，為用戶提供更為可靠的使用體驗(yàn)。

例如：在BIT測(cè)試中共進(jìn)行了591次循環(huán)，按照其931.5GB的實(shí)際可用容量，此次測(cè)試共寫入82577GB數(shù)據(jù)，若按一個(gè)普通辦公用戶10GB/天的寫入量計(jì)算，相當(dāng)于可以使用22年而不出錯(cuò)。