隨著科技的快速發(fā)展，固態(tài)硬盤（SSD）在各個領(lǐng)域的應(yīng)用越來越廣泛。為了確保SSD在高溫、惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)，抽拉式硬盤RDT高溫測試箱應(yīng)運(yùn)而生。而抽拉式硬盤RDT高溫測試箱作為一種專業(yè)的測試設(shè)備，其使用方法顯得尤為關(guān)鍵。下面，教大家如何使用該設(shè)備。

環(huán)儀儀器 抽拉式硬盤RDT高溫測試箱使用方法：

步驟一：準(zhǔn)備工作

將硬盤分別放置在放置架的放置板表面。接入穩(wěn)定電壓。

啟動驅(qū)動電機(jī)，帶動收線輪轉(zhuǎn)動，拉松拉繩，重力作用下，密封保溫罩沿升降架表面的滑動槽向下拉動，密封保溫罩抵接在擠壓棉的表面，形成密封空間。

啟動老化柜本體內(nèi)的加熱組件，進(jìn)行加熱。

步驟二：測試過程

通過傳動箱帶動傳動齒輪轉(zhuǎn)動，使放置架轉(zhuǎn)動180度，將放置了硬盤一側(cè)的放置板轉(zhuǎn)動到老化柜本體內(nèi)部。啟動驅(qū)動氣缸，帶動密封板伸出，抵接在老化柜本體和密封保溫罩之間的縫隙內(nèi)，進(jìn)行密封。

啟動驅(qū)動機(jī)構(gòu)將密封保溫罩升起，在未放置的放置板上放置好硬盤。硬盤測試完畢后，關(guān)閉密封保溫罩，收回密封板。

啟動傳動箱將放置架翻轉(zhuǎn)，將測試完畢的硬盤轉(zhuǎn)到表面。

打開密封保溫罩，將其取下，放置未測試的硬盤。

步驟三：循環(huán)測試

重復(fù)上述步驟，循環(huán)進(jìn)行測試。

持續(xù)監(jiān)控測試過程中的溫度和其他參數(shù)，確保老化柜的正常運(yùn)行。

根據(jù)測試需求，適時調(diào)整老化時間和溫度等參數(shù)。

抽拉式硬盤RDT高溫測試箱是一款定制設(shè)備，根據(jù)不同用戶的測試要求不同，在使用過程也會有所差異。