電腦硬盤RDT測試老化箱的可靠性驗證測試(Reliability Demonstration Testing，RDT)，主要目的是篩選不合格的盤片，其中包括了焊接問題、顆粒問題、DRAM以及主控問題，通過RDT測試，能保證盤片在使用過程中穩(wěn)定可靠。

在使用電腦硬盤RDT測試老化箱做測試，難免不了需要使用治具，下面，由“環(huán)儀儀器”為大家介紹一下這些測試治具。

環(huán)儀儀器 電腦硬盤RDT測試老化箱配套測試治具如下：

一、芯片測試治具

1、SMI測試架：
這種測試板支持SMI-58XT_AD、59XT_AC、59XT2方案，支持同時測試2顆BGA封裝的閃存芯片，能兼容132/152球的測試座子。

2、得一微測試架：
種測試板支持得一微YS9082/83主控方案，支持同時測試2顆BGA封裝的閃存芯片，能兼容132/152球的測試座子。

以上是環(huán)儀儀器硬盤RDT測試高溫老化柜可用于的測試項目，更多測試項目不逐一講解，具體可以訪問“環(huán)儀儀器”官網(wǎng)，咨詢相關(guān)技術(shù)人員。

二、SSD開卡治具

1、走USB通道的M.2開卡治具：
這種類型的開卡治具特點是通用性強，價格便宜，支持熱插拔，但是格式化速度較慢，并且不支持BIT老化測試。

2、走PCIe通道的M.2開卡治具：
這種類型的開卡治具特點是開卡速度快，支持熱插拔，并具備BIT老化測試功能，更換測試接頭便捷，但是上圖治具的開卡測試只對SMI方案好用，其他方案暫不支持，而老化測試功能則沒有方案限制。

3、瑞昱方案專用M.2開卡治具

4、群聯(lián)方案專用開卡治具

注意：USB接口的測試治具，不具備老化測試功能，SSD老化測試傳輸速度一定要快，最好是用模擬原接口，不然在傳輸效率上會大大折扣。

三、SSD老化治具
老化測試治具，因為沒有方案差別，主要是用在高溫柜里面的，所以就看接口就可以了。

1、U.2接口 RDT測試治具

2、U.2、PCIe二合一 RDT測試治具

3、SATA接口 RDT測試治具

四、SSD接口轉(zhuǎn)換治具

接口轉(zhuǎn)換工具的選擇，注意你需要轉(zhuǎn)換的接口就可以了，下面這些轉(zhuǎn)換板不僅可以用在測試設(shè)備（例如RDT高溫柜）里面，也通用于普通的電腦改造，前提是電腦有這么大的改造空間。

1、mSATA轉(zhuǎn)SATA  接口轉(zhuǎn)換板
注：此治具僅支持走SATA協(xié)議的mSATA接口 SSD。

2、M.2轉(zhuǎn)SATA 接口轉(zhuǎn)換板
注：此治具僅支持走SATA協(xié)議的M.2接口 SSD。

3、M.2轉(zhuǎn)PCIe 接口轉(zhuǎn)換板
注：此治具僅支持走NVMe協(xié)議的M.2接口 SSD。

4、M.2轉(zhuǎn)U.2 接口轉(zhuǎn)換板
注：此治具僅支持走NVMe協(xié)議的M.2接口 SSD。

此外，在電腦主板上的SSD接口數(shù)量是有限的，如果想接入更多SSD進行同步測試的話，可以用主板擴展連接盒工具，來解決主板接口數(shù)量不夠的問題。

在這里要說下，一般來說，很多公司不會給客戶配套這些測試治具。但是，環(huán)儀儀器做到了這一點，正因為如此，很多用戶都會選擇“環(huán)儀儀器”的電腦硬盤RDT測試老化箱。