《GB/T 12085.23-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第23部分：低壓與低溫、大氣溫度、高溫或濕熱》是中國國家標準，屬于光學(xué)和光子學(xué)領(lǐng)域。該標準規(guī)定了一種綜合環(huán)境試驗方法，用于評估光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備在低壓、低溫、大氣溫度、高溫或濕熱等復(fù)雜環(huán)境條件下的性能。

一、范圍：
本文件描述了低壓與低溫、大氣溫度﹑高溫或濕熱綜合試驗的環(huán)境試驗方法。

本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器以及來自其他領(lǐng)域附屬組件(如機械、化學(xué)和電子設(shè)備)的低壓與低溫、大氣溫度﹑高溫或濕熱綜合試驗。

二、試驗項目：
溫度濕度低氣壓綜合試驗。

三、試驗設(shè)備：
高低溫低氣壓試驗箱（室）。

四、設(shè)備廠商：
環(huán)儀儀器

五、試驗程序（部分）：

為了達到試驗溫度﹐應(yīng)在壓力降低之前開始制冷。在調(diào)整氣壓之前，試樣應(yīng)達到規(guī)定的測試溫度。在恒定的試驗箱(室)溫度下，熱有效試樣應(yīng)受試驗溫度的影響，直至試樣的溫度變化不超過1K/h，然后開始降壓。在此過程中，允許試樣內(nèi)部發(fā)熱。

當試樣各部分達到試驗箱(室)溫差3K以內(nèi)，且達到規(guī)定壓力時，即開始條件試驗周期。
條件試驗完成后,按相關(guān)規(guī)范規(guī)定，在壓力上升期間，試樣上應(yīng)形成凝露或結(jié)霜。有兩種方法可以在試樣上形成凝露或結(jié)霜。

以下兩種方法中的一種應(yīng)在相關(guān)規(guī)范中規(guī)定。

a）低壓條件下產(chǎn)生結(jié)霜

在溫度為-20 ℃~-10 ℃范圍內(nèi)和低壓為40 kPa的范圍內(nèi)加熱過程中，水蒸氣充滿了試驗箱(室)。

b)標準條件下產(chǎn)生結(jié)霜

在加熱期間,試驗箱(室)內(nèi)的壓力調(diào)整到標準壓力，同時溫度保持在-20 ℃~-10 ℃。

由于溫度低，水分在試樣上凍結(jié)和凝結(jié)。在終試期間，當存在結(jié)霜時，不準許試樣產(chǎn)生內(nèi)在熱，以防止試樣干燥。

在試驗箱(室)內(nèi)和試樣上都應(yīng)測量溫度。溫度傳感器在試樣上的位置應(yīng)在相關(guān)規(guī)范中規(guī)定。

測試報告中應(yīng)注明用于測量箱(室)內(nèi)空氣溫度的溫度傳感器的位置。

綜合環(huán)境試驗是為了模擬光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備在實際使用中可能遇到的多種極端環(huán)境條件，包括低溫、低壓、高溫、濕熱等。這些試驗有助于評估設(shè)備在這些條件下的性能和可靠性，以確保其在實際應(yīng)用中能夠正常工作。這對于需要在各種環(huán)境條件下使用的光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備非常重要，如衛(wèi)星通信設(shè)備、激光測量儀器、航天器載荷等。通過進行綜合環(huán)境試驗，可以確定設(shè)備的耐受性，以減少在實際使用中的故障風險。