《GB/T 12085.2-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱》是中國國家標(biāo)準(zhǔn)，屬于光學(xué)和光子學(xué)領(lǐng)域。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在實驗室條件下進(jìn)行光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備的環(huán)境試驗，特別是針對低溫、高溫和濕熱等環(huán)境條件的試驗方法。

一、范圍：
本文件描述了光學(xué)和光子學(xué)低溫、高溫、濕熱試驗的環(huán)境試驗方法。

本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器包括來自其他領(lǐng)域附屬組件(如機械、化學(xué)和電子設(shè)備)的低溫、高溫與濕熱試驗。

二、試驗項目：
高低溫試驗、濕熱試驗、凝露試驗、溫度漸變試驗、溫度特變試驗。

三、試驗設(shè)備：
恒溫恒濕試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、快速溫度變化試驗箱。

四、設(shè)備廠商：
環(huán)儀儀器

五、試驗程序（部分）：

試樣的各個部分溫度都應(yīng)達(dá)到與試驗箱(室)的溫度相差小于3K以內(nèi)開始試驗。對散熱試樣,在溫度穩(wěn)定的試驗箱(室)內(nèi)試樣的溫度變化每小時不超過1K時作為暴露周期或停留時間的開始(或終止)(條件試驗方法14或15)。試樣的溫度達(dá)到穩(wěn)定的最后1 h應(yīng)作為暴露周期的最初l h。

該標(biāo)準(zhǔn)的主要目的是評估光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備在低溫、高溫和濕熱等特殊環(huán)境條件下的性能和可靠性。這些條件可能會對一些設(shè)備產(chǎn)生不利影響，如導(dǎo)致零件脆化、材料老化、電子元件故障等。通過進(jìn)行這些環(huán)境試驗，可以確定設(shè)備在這些條件下的抗性，以確保其在實際應(yīng)用中能夠正常工作。這對于需要在極端氣溫條件下使用的光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備非常重要，如衛(wèi)星通信設(shè)備、激光器、紅外傳感器等。