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恒溫恒濕試驗箱是用于模擬各種環(huán)境條件下的材料或產品性能的設
低溫雨雪冰凍環(huán)境是一種常見的極端天氣事件,它通常發(fā)生在冬季

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《GB 7423.1-1987 半導體器件散熱器通用技術條件》標準

文章出處:原創(chuàng) 編輯:admin 發(fā)表時間:2023-05-27

GB 7423.1-1987是中國的國家標準,具體名稱為《半導體器件散熱器通用技術條件》。

該標準主要針對半導體器件散熱器的設計、制造和使用,旨在確保散熱器的質量、性能和可靠性符合規(guī)范要求。

 

一、范圍:
本標準規(guī)定了半導體器件散熱器的型號編制方法、技術要求、試驗方法、檢驗規(guī)則及包裝、標志、運輸和貯存。
本標準適用于電子設備用半導體器件(以下簡稱器件)散熱器。

 

二、試驗項目:
耐熱試驗、潮濕試驗等。

 

三、試驗設備:
恒溫恒濕試驗箱等。

 

四、設備廠商:
環(huán)儀儀器

 

五、試驗方法(部分):

散熱器的潮濕試驗,應按GB 2423.3-81《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗C a:恒定濕熱試驗方法》和下列規(guī)定進行:
a.將合適的器件裝于散熱器上,并放入試驗箱內﹔
b.初始檢查按4.2、4.4條規(guī)定進行;
c.試驗條件﹑相對濕度為93±3%,溫度為40 ± 2 ℃﹔
d.試驗時間惇存放96h ;
e.試驗后的檢查將散熱器從試驗箱中取出,在室溫下經4 h的干燥后,按3.12條的要求用目測法進行檢查。當有絕緣要求時,應按4.6條的規(guī)定,檢測絕緣電阻值。

 

通過遵循GB 7423.1-1987標準,半導體器件散熱器的制造商和用戶可以對散熱器的質量和性能進行評估和驗證,以確保其在實際使用中具有穩(wěn)定的性能和可靠的散熱效果。該標準對于推動半導體器件散熱器產品的標準化和互操作性,提高產品的質量和可靠性具有重要意義。

 

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