GB/T 2423.17-2008是中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，標(biāo)準(zhǔn)名稱為“電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn) 規(guī)程試驗(yàn)KA鹽霧試驗(yàn)方法”。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品在鹽霧環(huán)境下的試驗(yàn)方法和評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)，以檢測(cè)產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的耐受性能。

該標(biāo)準(zhǔn)適用于各種電工電子產(chǎn)品的KA鹽霧試驗(yàn)。試驗(yàn)時(shí)，將樣品放置在鹽霧試驗(yàn)箱中，在規(guī)定的試驗(yàn)時(shí)間內(nèi)，通過噴霧方式模擬海洋環(huán)境中的鹽霧腐蝕，檢測(cè)樣品的耐受性能。試驗(yàn)時(shí)還要對(duì)試驗(yàn)箱進(jìn)行溫度、濕度、壓力等環(huán)境參數(shù)的控制和記錄。

一、范圍：
本試驗(yàn)適用于比較具有相似結(jié)構(gòu)的試樣的抗鹽霧腐蝕的能力。本試驗(yàn)也適用于評(píng)定保護(hù)性涂層的質(zhì)量以及均勻性。
使用時(shí)，應(yīng)考慮以下的限制:
a）本試驗(yàn)不適合作為通潤(rùn)的鹽霧腐蝕試驗(yàn);
b) 本試驗(yàn)也不適用于在含鹽大氣中使用的單個(gè)試樣的評(píng)定。
對(duì)于設(shè)備以及零部件，低驗(yàn)Kb提供了更符合實(shí)際情況的試驗(yàn)條件以及單個(gè)試樣的評(píng)定方法。但如果某些情況下為了確保質(zhì)量，相關(guān)規(guī)范要求個(gè)別試樣采用本試驗(yàn)方法時(shí)試樣應(yīng)當(dāng)作為整個(gè)組件或者設(shè)備的組成部分連同實(shí)際的保護(hù)性設(shè)備(箱體、蓋子、外套等)一起進(jìn)行試驗(yàn)。

二、試驗(yàn)設(shè)備：
鹽霧試驗(yàn)機(jī)

三、試驗(yàn)要求（部分）：
1. 根據(jù)相關(guān)規(guī)范，試樣應(yīng)按正常使用狀態(tài)進(jìn)行試驗(yàn)。因此，試樣應(yīng)分為多個(gè)批次，每個(gè)批次按照一種使用狀態(tài)進(jìn)行試驗(yàn)。
試樣之間不應(yīng)有接觸，也不能與其他金屬部件接觸，因此試樣應(yīng)安放好以消除部件之間的影響。注:試樣在試驗(yàn)箱內(nèi)的位置(即試樣表面跟豎直平面的傾斜角)非常重要，位置上非常小的差別可能會(huì)導(dǎo)致結(jié)果差別比較大，取決于試樣的形狀。

2. 試驗(yàn)箱的溫度應(yīng)維持在(35±2)℃。

3. 所有的暴露區(qū)域都應(yīng)維持鹽霧條件，用面積為80 cm²的器皿在暴露區(qū)域的任何一點(diǎn)連續(xù)收集至少16 h的霧化沉積溶液，平均每小時(shí)收集量應(yīng)在1.0 mL~2.0 mL之間。至少應(yīng)采用兩個(gè)收集器皿，器皿放置的位置不應(yīng)受試樣的遮擋，以避免收集到試樣上凝結(jié)的溶液，器皿內(nèi)的溶液可用于測(cè)試pH值和濃度。

通過按照該標(biāo)準(zhǔn)的要求進(jìn)行KA鹽霧試驗(yàn)，可以檢測(cè)電工電子產(chǎn)品在海洋環(huán)境下的耐腐蝕性能，評(píng)估產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性，提高產(chǎn)品的抗腐蝕性能和使用壽命，為產(chǎn)品的開發(fā)和應(yīng)用提供技術(shù)支持。