LED冷熱沖擊試驗(yàn)箱可以對(duì)LED產(chǎn)品做溫度沖擊試驗(yàn)。它的特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)是一般的恒溫恒濕試驗(yàn)箱無(wú)法相比的，正因?yàn)橛辛诉@些優(yōu)勢(shì)，所以LED冷熱沖擊試驗(yàn)箱的價(jià)格要高，下面我們來(lái)看看具有的特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)有哪些。

優(yōu)勢(shì)一：LED高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱的制冷系統(tǒng)由兩部分組成，分別稱為高溫部分和低溫部分，每一部分是一個(gè)相對(duì)獨(dú)立的制冷系統(tǒng)。

優(yōu)勢(shì)二：高溫部分中制冷劑的蒸發(fā)吸收來(lái)自低溫部分的制冷劑的熱量而汽化；低溫部分制冷劑的蒸發(fā)則從被冷卻的對(duì)象（試驗(yàn)箱內(nèi)的空氣）吸熱以獲取冷量。

優(yōu)勢(shì)三：高溫部分和低溫部分之間是用一個(gè)蒸發(fā)冷凝器起來(lái)，它既是高溫部分的冷凝器，也是低溫部分的冷凝器。

LED高低溫沖擊試驗(yàn)箱濕度系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱的濕度系統(tǒng)分為加濕和除濕兩個(gè)子系統(tǒng)。

試驗(yàn)箱的加濕方式一般采用蒸汽加濕法，即將低壓蒸汽直接注入試驗(yàn)空間加濕。這種加濕方法加濕能力，速度快，加濕控制靈敏，尤其在降溫時(shí)容易實(shí)現(xiàn)強(qiáng)制加濕。

試驗(yàn)箱的除濕方式有兩種：機(jī)械制冷除濕和干燥除濕。機(jī)械制冷除濕的除濕原理是將空氣冷卻到露點(diǎn)溫度以下，使大于飽和含濕量的水汽凝結(jié)析出，這樣就降低了濕度。

干燥器除濕是利用氣泵將試驗(yàn)箱內(nèi)的空氣抽出，并將干燥的空氣注入，同時(shí)將濕空氣送入可循環(huán)利用的干燥進(jìn)行干燥，干燥完后又送入試驗(yàn)箱內(nèi)，如此反復(fù)循環(huán)進(jìn)行除濕。

現(xiàn)在大部分綜合試驗(yàn)箱采用前一種除濕方式法，后一種的除濕方法，可以使露點(diǎn)溫度達(dá)到0℃一下。適用于有特殊要求的場(chǎng)合，但費(fèi)用較貴。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱制冷壓縮機(jī)啟?？刂茰囟龋囟炔▌?dòng)大、嚴(yán)重影響壓縮機(jī)壽命，已淘汰的技術(shù)）制冷壓縮機(jī)恒定運(yùn)行+加熱PID控制（導(dǎo)致制冷量與加熱相抵消實(shí)現(xiàn)溫度動(dòng)態(tài)平衡，浪費(fèi)了大量的電能）新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行：低溫工作狀態(tài)，加熱器不參與工作，通過ASLI技術(shù)控制調(diào)節(jié)制冷機(jī)組制冷劑流量和流向，對(duì)制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調(diào)節(jié)，實(shí)現(xiàn)對(duì)工作室溫度的自動(dòng)恒定。此方式在低溫工況下，可實(shí)現(xiàn)降低40%的能耗。冷熱沖擊試驗(yàn)箱規(guī)格/SPEC/要可按客戶要求訂制

冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn):

采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面，操作簡(jiǎn)易.

設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，各區(qū)之箱體釆獨(dú)特之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)。

沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，做冷熱沖擊測(cè)試。

高溫沖擊或低溫沖擊時(shí)，最大時(shí)間可達(dá)9999分鐘，最大循環(huán)周期可達(dá)9999次。

系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)沖擊或手動(dòng)選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。

冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為風(fēng)冷式或水冷式兩種。

可連接電腦，記錄儀僅為選購(gòu)件。

彩色LCD液晶觸控式控制器的特點(diǎn)：

控制器的各項(xiàng)操作皆以人機(jī)觸控方式進(jìn)行。

人性化的圖控介面讓使用者更容易使用及了解機(jī)械狀態(tài)。

提供及時(shí)線上說明，免除閱讀說明書的困擾。

超大溫度值顯示,提供最佳的顯示效果.

冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn):

1.GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)》試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；2.GB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)》試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；3.GB/T2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)》試驗(yàn)Ca：恒定交變濕熱試驗(yàn)方法。

4.GB2423.2-2006（IEC68-2-2）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

5.GB/T2423.3-2006（IEC68-2-3）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法

6.GB/T2423.4-93（IEC68-2-30）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Da:交變濕熱試驗(yàn)方法

7.GJB150.3（ML-STD-810D）高溫試驗(yàn)方法

8.GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗(yàn)方法

9.GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》

10.GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)：恒定濕熱試驗(yàn)》

11.GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)：交變濕熱試驗(yàn)》

12.GJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》濕熱試驗(yàn)

13.GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》

14.GB/T5170.5-96《濕度試驗(yàn)設(shè)備》

15.GB/T10592-2008《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

16.GB/T10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

17.GB/T10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

18.GB/T11158-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》